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芯片測試類

測試老(lǎo)化(huà)類光(guāng)路(lù)組裝類半導體(tǐ)封裝類芯片測試類高(gāo)精密滑台

芯片測試類

Bar測試機(jī)

• 雙平台設計(jì)可(kě)同時(shí)進行(xíng)常溫、高(gāo)溫的(de)LIV和(hé)光(guāng)譜測試
• Bar條全自(zì)動上(shàng)下(xià)料,具備自(zì)動識别、校(xiào)正和(hé)‍定位功能(néng)
• 支持2寸或4寸Tray盒上(shàng)料,6寸藍(lán)膜下(xià)料
• 支持 Chip 編碼的(de)識别
• 支持不(bù)合格品打點功能(néng)
• 支持背光(guāng)功率測試功能(néng)

深圳總部:廣東(dōng)省深圳市(shì)光(guāng)明(míng)區(qū)裕豐達工(gōng)業(yè)園3棟

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