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測試老(lǎo)化(huà)類

測試老(lǎo)化(huà)類光(guāng)路(lù)組裝類半導體(tǐ)封裝類芯片測試類高(gāo)精密滑台

測試老(lǎo)化(huà)類

全自(zì)動工(gōng)業(yè)激光(guāng)器(qì)COS測試機(jī)

産品特性

• 測試功能(néng)包含LIV,光(guāng)譜,遠(yuǎn)場(chǎng),偏振消光(guāng)比
• 自(zì)動OCR芯片ID或基闆ID進行(xíng)數(shù)據綁定
• 上(shàng)下(xià)料方式可(kě)選擇華夫盒或老(lǎo)化(huà)夾具,根據測試結↑果分(fēn)bin下(xià)料
• 雙工(gōng)位并行(xíng)測試,UPH翻倍
• 芯片端面缺陷檢測(開(kāi)發中)

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産品參數(shù)

6-全自(zì)動工(gōng)業(yè)激光(guāng)器(qì)COS測試機(jī)-2.jpg

深圳總部:廣東(dōng)省深圳市(shì)光(guāng)明(míng)區(qū)裕豐達工(gōng)業(yè)園3棟

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